Impact des perturbations électromagnétiques sur les composants Si/SiGe
Le Transistor Bipolaire à Hétérojonction Si/SiGe sous contraintes électromagnétiques: des dégradations électriques à lanalyse structurale
Éditions universitaires européennes
€69.00
(inklusive MwSt.)
Verfügbarkeit: Titel wird für Sie produziert, Festbezug, bitte vormerken
Weitere Details
Erschienen: 22.09.2011
Umfang: 220 S.
Sprache: FRE
Einband: KT
Format: 1.4 x 22 x 15 cm
ISBN/EAN: 9786131587214
Umbreit-Nr.: 4763738
