Test Defect Prediction Model
Building a Prediction Model of Functional Test Defects for System Testing Using Six Sigma Methodology
Mohamed Suffian, Muhammad Dhiauddin/Ibrahim, Suhaimi/Abdullah, Mohamed
LAP Lambert Academic Publishing
€49.00
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Weitere Details
Erschienen: 13.04.2012
Umfang: 60 S.
Sprache: ENG
Einband: KT
Format: 0.5 x 22 x 15 cm
ISBN/EAN: 9783848433087
Umbreit-Nr.: 3371847
