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Interkristalline Korrosion und Spannungsrisskorrosion von Al-Mg-Si-Cu-Drähten

Cover von Interkristalline Korrosion und Spannungsrisskorrosion von Al-Mg-Si-Cu-Drähten

Schriftenreihe des Lehrstuhls für Korrosion und Korrosionsschutz 2

Schnatterer, Christian

Shaker Verlag GmbH

49.80

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug

Zusatztext

Die Aluminiumlegierung EN AW 6056 ist eine der bedeutendsten Legierungen für die Herstellung von Aluminiumschrauben für den Automobilbau, da sie bis heute den geeignetsten Kompromiss aus Umformbarkeit, Festigkeit und Korrosionsbeständigkeit darstellt. Trotz der generell als hoch eingeschätzten Beständigkeit von Al-Mg-Si(-Cu)-Legierungen gegen lokale Korrosion, ist diese Werkstoffklasse besonders im ausgehärteten Zustand anfällig für selektive Korrosion, wie z.B. interkristalline Korrosion (IK). Die mikrostrukturellen Vorgänge, die während der Aushärtung ablaufen und eine IK-Anfälligkeit bewirken sind noch nicht vollumfänglich verstanden und es existieren heute zahlreiche, teilweise widersprüchliche Modellvorstellungen zur Beschreibung der ablaufenden Mechanismen. Vor dem Hintergrund des Einsatzes als Schraube zielten die in der vorliegenden Arbeit vorgestellten Untersuchungen auf die Aufklärung der Mechanismen der interkristallinen Korrosion der EN AW 6056. Der Werkstoff wurde dabei in Form von Draht untersucht, der das Halbzeug für die Schraubenherstellung darstellt. Zusätzlich zur lokalen Korrosion ohne mechanische Belastung wurde die Anfälligkeit für Spannungsrisskorrosion (SpRK) analysiert, die in Folge simultaner mechanischer und korrosiver Belastung auftreten kann und deren Verständnis für Schraubverbindungen hohe Relevanz besitzt. Die Untersuchung der Korrosionseigenschaften erfolgte mittels zyklischer Polarisation, Tauchtests und Langsamzugversuchen in NaCl-haltigen Elektrolyten. Die für die Analyse der lokalen Korrosionsmechanismen notwendige Mikrostrukturanalyse umfasste u.a. dynamische Differenzkalorimetrie, Transmissionselektronenmikroskopie, Atomsondentomographie sowie synchrotronbasierte Röntgenfluoreszenzspektroskopie.

Weitere Details

Erschienen: 16.05.2018

Umfang: 207 S., 31 farbige Illustr., 55 Illustr.

Sprache: Deutsch

Einband: KT

ISBN/EAN: 9783844059335

Umbreit-Nr.: 4998618

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