OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
Jürgen Beyerer/Fernando Puente León/Thomas Längle
Karlsruher Institut für Technologie
€52.00
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Weitere Details
Erschienen: 24.03.2015
Umfang: 298 S., 101 farbige Illustr.
Sprache: Deutsch
Einband: KT
Format: 1.9 x 21 x 14.8 cm
ISBN/EAN: 9783731503187
Umbreit-Nr.: 8011330
