Kapazitiv gekoppelte Impulsbelastung zur Evaluierung der Festigkeit von integrierten Schaltungen gegenüber elektrostatischen Entladungen
cc-TLP auf Waferlevel
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Weitere Details
Erschienen: 11.12.2011
Umfang: 76 S., 6 farbige Illustr.
Sprache: Deutsch
Einband: KT
Format: 0.6 x 21 x 14.8 cm
ISBN/EAN: 9783656063681
Umbreit-Nr.: 1534783
