In-Situ Materials Characterization
Across Spatial and Temporal Scales, Springer Series in Materials Science 193
Alexander Ziegler/Heinz Graafsma/Xiao Feng Zhang et al
€106.99
(inklusive MwSt.)
Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug
Weitere Details
Erschienen: 10.04.2014
Umfang: xi, 256 S., 46 s/w Illustr., 78 farbige Illustr.,
Sprache: ENG
Einband: GEB
ISBN/EAN: 9783642451515
Umbreit-Nr.: 5812095
