Photomodulated Optical Reflectance
A Fundamental Study Aimed at Non-Destructive Carrier Profiling in Silicon, Springer Theses
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Weitere Details
Erschienen: 28.06.2012
Umfang: xxiv, 204 S., 51 s/w Illustr., 23 farbige Illustr.
Sprache: ENG
Einband: GEB
ISBN/EAN: 9783642301070
Umbreit-Nr.: 3345821
