Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen
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Erschienen: 12.01.2009
Umfang: 228 S., 2 farbige Illustr.
Sprache: Deutsch
Einband: KT
Format: 1.6 x 21 x 14.8 cm
ISBN/EAN: 9783640227419
Umbreit-Nr.: 3320818
