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Reliability of MEMS

Cover von Reliability of MEMS

Testing of Materials and Devices

Osamu Tabata/Toshiyuki Tsuchiya/Oliver Brand et al

Wiley-VCH GmbH

96.90

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Vergriffen, Bestellung abgelegt

Weitere Details

Erschienen: 17.04.2013

Umfang: XX, 304 S., 204 s/w Illustr., 25 s/w Tab., 229 Ill

Sprache: ENG

Einband: KT

ISBN/EAN: 9783527335015

Umbreit-Nr.: 4534642

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