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In-situ Electron Microscopy

Cover von In-situ Electron Microscopy

Applications in Physics, Chemistry and Materials Science

Gerhard Dehm/James M Howe/Josef Zweck

Wiley-VCH GmbH

175.00

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug

Weitere Details

Erschienen: 26.04.2012

Umfang: XVIII, 384 S., 178 s/w Illustr., 11 farbige Illust

Sprache: ENG

Einband: GEB

Format: 2.2 x 24.5 x 17.5 cm

ISBN/EAN: 9783527319732

Umbreit-Nr.: 1501703

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