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Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications

Cover von Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications

eBook

Krzysztof (Kris) Iniewski/Liang (Kevin) Cai

SPRINGER

161.95

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Lieferbar

Weitere Details

Erschienen: 22.01.2025

Umfang: 200 S., 36.22 MB

Sprache: ENG

ISBN/EAN: 9783031756535

Umbreit-Nr.: 5475488

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