Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications
Krzysztof (Kris) Iniewski/Liang (Kevin) Cai
€139.09
(inklusive MwSt.)
Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug
Weitere Details
Erschienen: 23.01.2025
Umfang: vii, 261 S., 75 farbige Illustr., 261 p. 75 illus.
Sprache: ENG
Einband: GEB
ISBN/EAN: 9783031756528
Umbreit-Nr.: 4491138
