Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
Origin, Characterization, Control, and Device Impact, Springer Series in Materials Science 270
€181.89
(inklusive MwSt.)
Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug
Weitere Details
Erschienen: 30.01.2019
Umfang: xxxiii, 438 S., 8 s/w Illustr., 207 farbige Illust
Sprache: ENG
Einband: KT
ISBN/EAN: 9783030067472
Umbreit-Nr.: 7843885
