Helium Ion Microscopy
Principles and Applications, SpringerBriefs in Materials
€53.49
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Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug
Weitere Details
Erschienen: 14.09.2013
Umfang: viii, 64 S., 13 s/w Illustr., 16 farbige Illustr.,
Sprache: ENG
Einband: KT
ISBN/EAN: 9781461486596
Umbreit-Nr.: 5455622
