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Life-Cycle Assessment of Semiconductors

Cover von Life-Cycle Assessment of Semiconductors

Boyd, Sarah B

Springer Verlag GmbH

106.99

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug

Weitere Details

Erschienen: 12.10.2011

Umfang: xxvii, 226 S.

Sprache: ENG

Einband: GEB

ISBN/EAN: 9781441999870

Umbreit-Nr.: 1724508

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