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Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Cover von Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Lecture Notes in Electrical Engineering 2

Aliev, Telman

Springer Verlag GmbH

106.99

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug

Weitere Details

Erschienen: 24.11.2010

Umfang: xii, 224 S.

Sprache: ENG

Einband: KT

ISBN/EAN: 9781441944108

Umbreit-Nr.: 1561329

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