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Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Cover von Digital Noise Monitoring of Defect Origin

Lecture Notes in Electrical Engineering 2

Aliev, Telman

Springer Verlag GmbH

106.99

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug

Weitere Details

Erschienen: 25.07.2007

Umfang: xii, 224 S.

Sprache: ENG

Einband: GEB

ISBN/EAN: 9780387717531

Umbreit-Nr.: 1635974

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