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Advances in X-Ray Analysis

Cover von Advances in X-Ray Analysis

Volume 29

Charles S Barrett/jerome B Cohen/John Faber Jr et al

Springer Verlag GmbH

213.99

(inklusive MwSt.)

Verfügbarkeit: Besorgungstitel, Festbezug

Weitere Details

Erschienen: 30.06.1986

Umfang: xviii, 600 S.

Sprache: ENG

Einband: GEB

ISBN/EAN: 9780306422874

Umbreit-Nr.: 1524303

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